「スプライト及び雷放電の高速測光撮像センサ（JEM-GLIMS）」の研究成果がNASAから表彰されました:「きぼう」での実験 - 宇宙ステーション・きぼう広報・情報センター

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「スプライト及び雷放電の高速測光撮像センサ（JEM-GLIMS）」の研究成果がNASAから表彰されました

最終更新日：2014年6月25日

JEM-GLIMSが収められているポート共有実験装置（MCE）（出典：JAXA/NASA）

NASAは、現地時間6月19日、2013年に行われた国際宇宙ステーション（ISS）での研究のうち、もっとも技術的な達成を成し遂げた研究14件を発表しました。

そのうち「新発見による成果」の部門で、「きぼう」日本実験棟の船外実験プラットフォームに設置されているポート共有実験装置（Multi-mission Consolidated Equipment: MCE）に搭載された「スプライト及び雷放電の高速測光撮像センサ（JEM-GLIMS）」での研究が受賞しました。

これは、シカゴで開催された第3回ISS研究開発会議で大学、産業界、政府の研究の中で最も優れた研究実績として選出されたものです。

受賞理由として、JEM-GLIMSによる雷放電の光学と電磁観測により、スプライト（高高度放電発光現象）の位置とそれを引き起こした雷放電との関係を示す物理的パラメータの特定を可能にし、雷の全体像、発生のメカニズムや地球のオゾン層にスプライトが与える影響などについてについてより定量的に理解できるようになったことが挙げられています。

高高度放電発光現象の発生形態（出典：JAXA）

JEM-GLIMS
JEM-GLIMSの初初観測データ取得について

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