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中性子モニタ(NEM:Neutron Monitor) |
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重イオン計測装置(HIT:Heavy Ion Telescope) |
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中性子は電気的に中性なため透過力が強く、人体に非常に有害な放 射線です。中性子モニタは、その中性子をリアルタイムで計測します。 |
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電子部品の誤動作や破損の原因のひとつである重イオン(Li~Fe)の粒子別エネルギー分布を計測します。 |
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プラズマ計測装置(PLAM:Plasma Monitor) |
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高エネルギー軽粒子モニタ(SDOM:Standard Dose Monitor) |
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宇宙機の帯電や放電の原因となる宇宙空間プラズマの密度と電子温度を計測します。 |
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部品材料の劣化や電子部品の誤動作等の原因となる電子、陽子、α線等の高エネルギー軽粒子の粒子別エネルギー分布を計測します。 |
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原子状酸素モニタ(AOM:Atomic Oxygen Monitor) |
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電子部品評価装置(EDEE:Electronic Device Evaluation Equipment) |
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原子状酸素は、熱制御材や塗料を劣化させ、ISSの熱制御に悪影響を及ぼします。原子状酸素モニタは、ISSが周回する軌道の原子状酸素の量を測定します。 |
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「きぼう」で使用される電子部品の宇宙放射線によるシングルイベント現象(宇宙放射線の粒子が入射することにより電子部品の回路に一時的な誤動作や永久的な損傷が生じる現象)や劣化を計測します。 |
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微小粒子捕獲実験装置(MPAC:Micro-Particles Capturer) |
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材料曝露実験装置(SEED:Space Environment Exposure Device) |
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ISSの軌道に存在する微小な粒子を捕獲する装置で、地上へ回収後、捕獲粒子の大きさ、組成、衝突エネルギー等を評価します。 |
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宇宙用材料(熱制御材料・固体潤滑剤等)を宇宙環境に直接曝す装置です。地上へ回収後、宇宙放射線や原子状酸素等、宇宙環境の影響による宇宙用材料の劣化状況を評価します。 |